6. Amberger Patenttag: „Marken, Muster und Wettbewerb“
Hochkarätige Referenten vom Bundespatentgericht, vom Deutschen Patent- und Markenamt, der Schaeffler Technologies GmbH, der BMW AG und aus Anwaltskanzleien haben beim 6. Amberger Patenttag an der Hochschule in Amberg den Fragenkreis „Marken, Muster und Wettbewerb“ beleuchtet. Die Begrüßung der 146 Tagungsteilnehmer durch den Präsidenten der HAW, Prof. Dr. Erich Bauer, war verbunden mit der Verleihung der Würde eines Ehrenbürgers der Hochschule Amberg-Weiden an Herrn Vorsitzenden Richter am Bundespatentgericht Dipl.-Ing. Werner Bertl.
„Die Auszeichnung erfolgt in Würdigung und dankbarer Anerkennung der hervorragenden Verdienste, die sich Herr Werner Bertl beim Aufbau des Studiengangs Patentingenieurwesen an unserer Hochschule erworben hat“, so Präsident Prof. Dr. Bauer in seiner Laudatio. Im Anschluß gab der Vizepräsident des Deutschen Patent- und Markenamtes (DPMA), Günther Schmitz, in seinem Auftaktvortrag einen Überblick über die Aufgabenbereiche des DPMA, gefolgt von Fachvorträgen zu Themen wie „Das Gebrauchsmuster in der Praxis“, „Deutsches Gebrauchsmusterrecht“, „Geschmacksmusterrecht“, „Die Marke im Unternehmen“ bis hin zu „Die Anmeldung von Marken beim Deutschen Patent- und Markenamt“, „Markenrecht“, „Erfolgreicher Designschutz“, „Verletzung von Schutzrechten“ und „Produkt- und Markenpiraterie“.
Organisiert von der Hochschule Amberg-Weiden (Vizepräsidentin Prof. Dr. Andrea Klug), der Geschäftsstelle der IHK Regensburg in Amberg, der Landesgewerbeanstalt/TÜV Rheinland und dem Zentrum für Weiterbildung Amberg-Weiden (ZfW) richtete sich die Tagung an private und öffentliche Unternehmen, Mitarbeiter von Patentabteilungen, Patentsachbearbeiter und alle Experten, die sich mit Fragen des Patentschutzes und des strategischen Patentmanagements befassen.