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Forum „Integrated Innovation and Patent Management“

Gruppenfoto von links: Martin Köppl (Europäisches Patentamt), Prof. Dr. Thomas Tiefel und Prof. Dr. Ursula Versch (OTH Amberg-Weiden), Dr. Christian Hahner (Daimler AG), Bernd Wolter (Siemens AG)
Von links: Martin Köppl (Europäisches Patentamt), Prof. Dr. Thomas Tiefel und Prof. Dr. Ursula Versch (OTH Amberg-Weiden), Dr. Christian Hahner (Daimler AG), Bernd Wolter (Siemens AG)

Zum ersten Mal hat an der Ostbayerischen Technischen Hochschule (OTH) in Amberg das Forum „Innovations- und Patent-Management“ stattgefunden. Für die Veranstaltung am 06. Mai konnten die Organisatoren Prof. Dr. Thomas Tiefel und Prof. Dr. Ursula Versch hochkarätige Experten aus der Wirtschaft gewinnen.

Gruppenfoto von links: Martin Köppl (Europäisches Patentamt), Prof. Dr. Thomas Tiefel und Prof. Dr. Ursula Versch (OTH Amberg-Weiden), Dr. Christian Hahner (Daimler AG), Bernd Wolter (Siemens AG)
Von links: Martin Köppl (Europäisches Patentamt), Prof. Dr. Thomas Tiefel und Prof. Dr. Ursula Versch (OTH Amberg-Weiden), Dr. Christian Hahner (Daimler AG), Bernd Wolter (Siemens AG)

Im ersten Teil des Forums referierten Dr. Alexander Vyhnal (STAEDTLER Mars GmbH & Co. KG) und Dr. Christian Hahner (Daimler AG) über die neuesten Ansätze und Methoden des Innovationsmanagements in ihren Unternehmen. Im zweiten Teil der Veranstaltung wurde das Thema Patentinformation und Recherche genauer erörtert. Dabei erhielt das Auditorium von Bernd Wolter (Siemens AG) und dem Patentprüfer Martin Köppl vom Europäischen Patentamt aus erster Hand detaillierte Einsicht in diese komplexe Materie. Nach den Vorträgen war noch genügend Raum, um Fragen an die ausgewiesenen Experten zu stellen. 

Standortübergreifend hatten insgesamt über 70 Studierenden der Studiengänge Innovationsfokussierter Maschinenbau, Patentingenieurwesen sowie Interkulturelles Unternehmens- und Technologiemanagement die außergewöhnliche Chance genutzt, das in den Vorlesungen gelernte Wissen in praktischer Anwendung zu erleben.

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